autor: Zuzana Štubianová | 7. prosince 2022 | Všechny příspěvky, O firmě, Produkty
Figuring out a product that you could bring to a customer and help him in his field, especially if the field is the laboratory and industrial nano computed tomography (nano-CT), might be a challenge for some companies. That is why learning your customer’s pain first...
autor: Zuzana Štubianová | 18. listopadu 2022 | Všechny příspěvky, O firmě
Tento týden jsme se zúčastnili veletrhu Electronica 2022 v Mnichově! Viděli jsme mnoho zajímavých projektů a seznámili se s řadou zástupců společností zaměřených na rentgenovou CT, automobilový průmysl a vývoj a výrobu baterií. Působivé stánky firem,...
autor: Zuzana Štubianová | 11. listopad 2022 | Všechny příspěvky, Produkty
Máte-li zájem o 1 až 2 týdny bezplatného testování našich bezdrátových CT překladových stolů SaguaroX nebo fantomů, kontaktujte nás! Chcete-li využít této příležitosti nebo položit jakékoli další otázky, kontaktujte Alenu Hanzelkovou, manažerku pro rozvoj obchodu. Předmětem testování...
autor: Zuzana Štubianová | 9. listopad 2022 | Všechny příspěvky, O firmě
Příští týden se zúčastníme veletrhu Electronica 2022 v Mnichově!? Veletrh electronicaFair je předním světovým veletrhem a konferencí v oblasti elektroniky, který se koná ve dnech 15.–18. listopadu 2022 v německém Mnichově. Zastupovat nás tam bude CTO společnosti CactuX Jakub Šalplachta,...
autor: Zuzana Štubianová | 4. listopadu 2022 | Všechny příspěvky, Produkty
Letos jsme navázali spolupráci s TEC Eurolab (Itálie), průmyslovou laboratoří pro analýzu materiálů a centrem excelence pro laboratorní zkoušky a nedestruktivní testování, školení a certifikaci. Společnost TEC Eurolab laskavě souhlasila s dlouhodobější komerční spoluprací...
autor: Zuzana Štubianová | 17. října 2022 | Granty
Byli jsme přijati do 1. fáze akceleračního programu EIT RawMaterials! Ve dnech 1. – 2. října 2022 v Berlíně naši kolegové Jakub Šalplachta (CTO) a Zuzana Štubianová (COO) úspěšně obhájili nový projekt společnosti CactuX s.r.o. In-situ CT MEASUREMENT CHAMBER v...
